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표면조도측정기

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제품명 : DIAVITE COMPACT2



DIAVITE COMPACT






◎ 측정물의 거칠기를 측정하는 단순한 기기로
   쉽고 정확한 측정이 가능합니다.






◎ 측정이 완료되면 위 사진과 같이
    데이터가 수치화로 표시됨.





COMPACT 사양



사양 DIAVITE COMPACT2
측정단위 › ISO/DIN: Ra, Rz (DIN), Rmax, R3z, Rt, Rq (RMS), Rk, Rp, Rv, Rpk, Rvk,
  MR1, MR2, Rpc, C1, C2, contact ratio Rmr, C0, Cz
› JIS: Ra (JIS), Rz (JIS)
› ISO 12085: R, AR, Rx
› additional measurement values via PC software (option)
측정범위 › Ra, Rq: 0 – 20.00 μm | 0 – 800 μin
› All other measurement values: 0 – 350.0 μm | 0 – 1400 μin
디스플레이 › Ra, Rq: 0.001 μm
› All other measurement values: 0.01 μm
OUTPUT USB port
트레이서TIP 다이아몬드팁: 5 μm, 90° (standard) 또는 2 μm, 60° (optional)
Tracing Skid radius 25 mm (standard tracer)
Tracing Speed 0.5 mm/s
본체크기(LxWxH) 140 x 75 x 60 mm